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Combinazione LIPS + microscopia 3D sulla copertina della rivista EPJ Plus (The European Physical Journal), che sottolinea il carattere altamente innovativo del lavoro “Spatially calibrated elemental depth profiling using LIPS and 3D digital microscopy, S. Siano, I. Cacciari, A. Mencaglia, J. Agresti.
Combinazione LIPS + microscopia 3D sulla copertina della rivista EPJ Plus (The European Physical Journal), che sottolinea il carattere altamente innovativo del lavoro “Spatially calibrated elemental depth profiling using LIPS and 3D digital microscopy, S. Siano, I. Cacciari, A. Mencaglia, J. Agresti.
Per ulteriori informazioni: temart@ifac.cnr.it
